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aktualisiert am 17. April 2024

ISBN 9783843914697

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978-3-8439-1469-7, Reihe Elektrotechnik

Ulf Hilger
EMV-Störfestigkeitssimulationen an ausgedehnten Kfz-Bussystemen

168 Seiten, Dissertation Technische Universität Dortmund (2014), Softcover, A5

Zusammenfassung / Abstract

Aufgrund eines hohen Vernetzungsgrades und der großen räumlichen Ausdehnung sind die Bussysteme im Kraftfahrzeug im Hinblick auf ihre elektromagnetische Verträglichkeit besonders kritisch. Hochfrequente Störsignale können zu einem Ausfall der Transceiver beziehungsweise der Kommunikation führen.

In diesem Buch werden Methoden zur Modellparameterbestimmung von ICs für Störfestigkeitssimulationen vorgestellt. Es ist nicht ausreichend, die Impedanz von Halbleitern mit dem Netzwerkanalysator zu erfassen. Das Ausfallverhalten der ICs muss im kritischen Ausfallpunkt gemessen und in Form frequenzabhängiger Impedanz- und Ausfallspannungskennlinien in die Modelle implementiert werden. Auf speziell entwickelten Messplatinen werden CAN-, LIN- und FlexRay-Transceiver mit sinusförmigen Störsignalen im Frequenzbereich bis 100 MHz angeregt und nahe der Störschwelle betrieben. Hierbei zeigt sich ein nichtlineares, teilweise abgestuftes Ausfallverhalten, bis hin zum Kurzschluss. Auf Basis der Messdaten werden Störfestigkeitsmodelle der untersuchten Bustransceiver entwickelt.

Die messtechnische Verifikation der Modelle am Laboraufbau zeigt eine gute Übereinstimmung mit den Simulationsergebnissen.

Der praktische Nutzen des Verfahrens wird beispielhaft anhand von virtuellen Störfestigkeitsuntersuchungen an einem ausgedehnten FlexRay-Netzwerk dargestellt.